b.Laser Bar測試系統

-規格

1.L-I-V Curve Tracer

2.Spectrum Analyzer：可量測 FP LD、DFB LD

3.CW / Pulse Mode Current：

   (CW) 0 ~ 200 mA

   (CW) 0 ~ 500 mA,

   (Pulse) 0 ~ 200 mA , 

   (Pulse) 0 ~ 500 mA ;Programmable

    Frequency 1KHz, Duty Cycle 10%。                                          

4.Reverse Current(Ir) : 0~20 µA

5.Optical Power：0 ~ 10 mW (Ge Detector)

6.Forward Voltage：0 ~ 5V

7.可在測試中對N.G. 的晶粒做刮痕標記

8.可單顆測試或連續測試

9.測試座由 5 相步進馬達驅動,解析度 為  1 um

-機台規格

1.測試座具有真空吸條，用來固定 Laser Bar。

2.利用推刀把 Laser Bar 平整的推到測試位置。

3.不同共振腔長度和晶片寬度之Laser Bar ，

    均可使用。

4.點測探針配備 Edge Sensor，故在連續測試

   下，系統會自動偵測是否測試結束。