元件探針量測平台(IV Curve & CV Testing Probe station)
探針量測平台 Probe Station
應用: Wafer/LED/LD/PD/OLD/LCD/TFT/PCB 等應用
半導體、光電-雙端元件、三端元件 量測IV/CV ,ID-VG,ID-VD,NMOS id vs vg,NMOS Id vs Vd,PMOS Id vs Time等參數。
Model：AMP200
Model：EMP100C
8" 負溫雷射打印探針台 (Laser Cuter Probe Station
雙面點針探台
配件:
高頻探針座
太陽能單針探針座
DC 探針座(大電壓)
DC 探針座(小電流)
探針桿(SMA,Triaxial,Coaxial,BNC SMC.HV,HC Cable)
轉接頭 (RF,Triaxial.Coaxial,SMA.SMC,Adapter)
防震桌
空壓機
真空幫浦
儀器櫃
客製化樣品載具及治具