元件探針整合量測平台(I-V, C-V Testing Probe station)

探針量測平台 Probe Station  

應用: Wafer/LED/LD/PD/OLD/LCD/TFT/PCB 等應用

半導體、光電-雙端元件、三端元件 量測IV/CV ,ID-VG,ID-VD,NMOS id vs vg,NMOS Id vs Vd,PMOS Id vs Time等參數。

配件:

探針桿(SMA,Triaxial,Coaxial,BNC SMC.HV,HC Cable)

轉接頭 (RF,Triaxial.Coaxial,SMA.SMC,Adapter)

防震桌

空壓機

真空幫浦

儀器櫃

客製化樣品載具及治具