1.探針量測平台(IV Curve & CV Testing)

l探針量測平台 Probe Station  

應用: Wafer/LED/LD/PD/OLD/LCD/TFT/PCB 等應用。

     半導體、光電-雙端元件、三端元件 量測IV/CV ,ID-VG,ID-VD,NMOS id vs vg,NMOS Id vs Vd,PMOS Id vs Time等參數。

 全系列探針平台

 8" 負高溫雷射打印探針台

 低溫真空量測探針台

 全系列探針平台

(含黑箱、儀器櫃、防震桌)

半導體參數分析探針系統

(含黑箱)

 紅外線雷射修補打印探針系統

 

                                                                                

規格:

三軸 X-Y-Z 探針座

   resolution: 1micron 、5micron 等

 高頻探針座

 太陽能單針探針座

 DC 探針座(大電壓)

 DC 探針座(小電流)

探針桿(SMA,Triaxial,Coaxial,BNC SMC.HV,HC Cable)

轉接頭 (RF,Triaxial.Coaxial,SMA.SMC,Adapter)

防震桌

空壓機

真空幫浦

儀器櫃

客製化樣品載具及治具