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智果整合有限公司
關於智果 About SDC
產品介紹
-a.電性量測與光學量測系統
1.探針量測平台(IV Curve & CV Testing)
2.太陽能模擬光量測平台(客製化)
3.四點探針量測系統
4.霍爾量測系統 Model:VDP 6800
Hall Bar Measurement System
5.光通亮積分球量測系統(LED/Laser Diode)
a.LED光電特性量測(LED Property Analyzer)
b.Laser Bar測試系統
6.熱電(材料)性質量測系統
7.真空高/低溫度量測探針平台 ( Cryogenic Vaccum Probe station)
8.可撓式拉升應變可靠度量測系統 (Analysis of Flexible Substrate under Bending Strains )
-b.光學檢測系統與影像擷取量測設備
1.光學顯微鏡組、金相材料分析量測軟體
2.紅外線穿透雷射打印系統(IR Inspection Laser Mark System)
-c.理化儀器設備
-d.治具與客製化設備
1.ITO 玻璃切割機 及 晶片切割機
2.浸鍍機 (Deep Coater)
3.UV 臭氧清洗機(UV ozone cleaner)
4.客製化UV光源加熱機
-e.奈米噴印系統 (Inkjet Deposition System)
-f.二手儀器設備 及 儀器維修
-g.超級電容 Supercapacitor
-h.電子電路設計 Electronic Circuit Design
-i.三軸磁場分佈量測儀
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-b.光學檢測系統與影像擷取量測設備
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2.紅外線穿透雷射打印系統(IR Inspection Laser Mark System)
特點:
紅外線檢測功能:利用特殊光學可穿透矽晶圓並可完整呈現,防止不良產品的發生,適合半導體業界檢測使用,如Si inserposer、TSV、Bumping、WLC-SP、FC-CSP、FC-BGA、MEMS、封裝後成品等。
光學設計IR光源採用波長: 900-1700nm
檢測速度:0.1秒