1.探針量測平台(IV Curve & CV Testing)

l探針量測平台 Probe Station  

應用: Wafer/LED/LD/PD/OLD/LCD/TFT/PCB 等應用。
     半導體、光電-雙端元件、三端元件 量測IV/CV ,ID-VG,ID-VD,NMOS id vs vg,NMOS Id vs Vd,PMOS Id vs Time等參數。

  
 
 全系列探針平台 8" 負高溫雷射打印探針台 低溫真空量測探針台
  

 
 
 
 全系列探針平台
(含黑箱、儀器櫃、防震桌)
半導體參數分析探針系統
(含黑箱)
 紅外線雷射修補打印探針系統

 
 
 
 
 
 
           
    
                                                                 
規格:
  • 手動標準型/簡易型/客製化平台
  • 真空載盤尺寸:2".4",6",8".12"
  • 平台行程:4",6",8".12" 
  • 選配:
  • 光學顯微鏡(實體顯微鏡、變焦變倍單管顯微鏡、長工作距離物鏡
  • 金相顯微鏡..等)
  • 真空幫浦、防震桌、空壓機、黑箱、儀器櫃
  • Triaxial adapter、Traixial cable
  • Coaxial adapter、Coaxial cable
  • 變溫載盤(RT~200 deg C or 300  deg C )(搭配水冷機 or 冰水機系統)       
三軸 X-Y-Z 探針座
   resolution: 1micron 、5micron 等
 
 
 
 
 高頻探針座 太陽能單針探針座 DC 探針座(大電壓) DC 探針座(小電流)

探針桿(SMA,Triaxial,Coaxial,BNC SMC.HV,HC Cable)

 
 
 
 

轉接頭 (RF,Triaxial.Coaxial,SMA.SMC,Adapter)
 		 
 

防震桌
空壓機
真空幫浦
儀器櫃
客製化樣品載具及治具