l探針量測平台 Probe Station 應用: Wafer/LED/LD/PD/OLD/LCD/TFT/PCB 等應用。 半導體、光電-雙端元件、三端元件 量測IV/CV ,ID-VG,ID-VD,NMOS id vs vg,NMOS Id vs Vd,PMOS Id vs Time等參數。
規格:
三軸 X-Y-Z 探針座 resolution: 1micron 、5micron 等
探針桿(SMA,Triaxial,Coaxial,BNC SMC.HV,HC Cable)
轉接頭 (RF,Triaxial.Coaxial,SMA.SMC,Adapter)
防震桌 空壓機 真空幫浦 儀器櫃 客製化樣品載具及治具 |
-a.電性量測與光學量測系統 >