b.Laser Bar測試系統

-規格

1.L-I-V Curve Tracer
 
2.Spectrum Analyzer:可量測 FP LD、DFB LD
 
3.CW / Pulse Mode Current:
   (CW) 0 ~ 200 mA
   (CW) 0 ~ 500 mA,
   (Pulse) 0 ~ 200 mA , 
   (Pulse) 0 ~ 500 mA ;Programmable
    Frequency 1KHz, Duty Cycle 10%。                                          
4.Reverse Current(Ir) : 0~20 µA
 
5.Optical Power:0 ~ 10 mW (Ge Detector)
 
6.Forward Voltage:0 ~ 5V
 
7.可在測試中對N.G. 的晶粒做刮痕標記
 
8.可單顆測試或連續測試
 
9.測試座由 5 相步進馬達驅動,解析度 為  1 um

 






-機台規格

1.測試座具有真空吸條,用來固定 Laser Bar。
2.利用推刀把 Laser Bar 平整的推到測試位置。
3.不同共振腔長度和晶片寬度之Laser Bar ,
    均可使用。
4.點測探針配備 Edge Sensor,故在連續測試
   下,系統會自動偵測是否測試結束。